薄膜放卷平整度檢測是一項關鍵任務，傳統的人工成本高且測量精度有限。

將激光位移傳感器安裝在薄膜的正上方，通過持續輸出距離數據至上位機，再對比薄膜通過時的距離數據，從而實現對片料平整度的準確檢測。例如，FSD22-30N-UI型號具有10um的重復精度，能夠滿足對薄膜平整度的高要求。